顯微熔點(diǎn)儀 熔點(diǎn)儀 型號(hào)：DP-SGW X-4

特點(diǎn)：

測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻法（熱臺(tái)片法）測(cè)定。

主要參數(shù)：
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃ 
測(cè)量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時(shí)）

±2℃（在20 .0℃ 320℃ 時(shí)）